对于硅基Micro LED/OLED产品点亮后的光学、电学等性能，进行拍照、分析检测的全自动设备，应用在Micro LED显示产品切割前的Cell段点灯工序的显示功能及缺陷检测。
用于新型显示器件Module开发设计及量产中、产品点亮状态下的品质验证和老化测试，提供温湿度运行环境以确认产品的品质可靠性。
对于新型显示器件Module产品点亮后的光学、电学等性能，进行拍照、分析检测的全自动设备，应用在Micro LED显示产品切割后的Module段点灯工序的显示功能及缺陷检测。
采用独特设计的定制宽视角镜头，模拟人眼视野情况，能够对AR/VR等NED设备的虚像，实现高分辨率图像数据采集。
用于AR显示模组产品高温/常温老化测试等应用场景，提供多路高精度电源及I3C/I2C、CLK_Out信号，长时间加载在模组上，加速暴露潜在的可靠性问题，是可靠性验证工具。可搭配自动化设备，也可应用于Offline产线，满足客户多种检测应用需求。
提供多路高精度电源及MIPI、LVDS、QSPI等信号，用于VR显示模组产品Test等应用场景，既可搭配自动化设备，也可应用于Offline产线，满足测客户多种检测应用需求。
广泛应用于显示器件、Micro-LED、Mini-LED、AR/VR近眼显示、车载显示、背光模组及光学模组等领域的亮度均匀性和缺陷检测，可快速捕获被测物体整个表面的亮度分布信息，精准测量亮度&亮度均匀性等核心光学参数，支持单像素级精细化检测，能高效识别发光表面暗点、亮点、Mura（亮度不均）等细微缺 ...
广泛应用于显示面板、Micro-LED、OLED、AR/VR近眼显示、车载显示及背光模组等领域，用于评估上述产品的亮度、色度均匀性及显示品质检测，基于科学级面阵传感器与CIE标准滤光/光谱技术的二维光学测量设备，可一次性获取整幅画面的像素级亮度、色度及均一性数据，适配显示行业的快速质检与研发分析，兼 ...
